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美國(guó)Trio-Tech 半導(dǎo)體高加速壓力測(cè)試系統(tǒng)，高加速應(yīng)力測(cè)試（HAST）結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時(shí)間，以測(cè)量元件的可靠性，無(wú)論是否具有電偏置。HAST測(cè)試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測(cè)試的壓力。它本質(zhì)上是一種腐蝕失效測(cè)試。腐蝕型故障加速，在較短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)包裝密封，材料和接頭等缺陷。偏置高加速壓力測(cè)試（BHAST）利用與HAST測(cè)試相同的變量（高壓，高溫和時(shí)間），但增加了電壓偏差。BHAST測(cè)試
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